>>>產(chǎn)品描述>>>

     新型OE750是OES金屬分析儀。 它涵蓋了金屬中所有元素的全部光譜，并且具有同類產(chǎn)品中最低的檢測(cè)限。
     OE750包括先進(jìn)的半導(dǎo)體檢測(cè)器和新的光學(xué)概念（正在申請(qǐng)四項(xiàng)專利）。 這使Hitachi OES分析儀具有同類產(chǎn)品中高的光學(xué)分辨率，因此您不必在高性能和低成本之間進(jìn)行選擇。
     OE750設(shè)計(jì)用于高度分析和可靠的性能。 擴(kuò)展的波長(zhǎng)范圍和優(yōu)化的等離子體耦合保證了對(duì)重要元素（例如鋼中的氮，鋁中的磷）的精確識(shí)別和痕量分析。 可以安全地分析合金元素以及痕量和不需要的元素，并且檢出限在最低ppm范圍內(nèi)。
     緊湊而堅(jiān)固的設(shè)計(jì)使OE750幾乎可以安裝在任何工業(yè)環(huán)境中

>>>工作原理>>>

     數(shù)控激勵(lì)源在樣品和電極之間產(chǎn)生強(qiáng)大的放電。放電使表面上的一小部分樣品材料熔化，蒸發(fā)并激發(fā)它在等離子體中發(fā)光。火花塞已用氬氣沖洗過(guò)。氬氣氣氛可防止樣品表面氧化，并使幾乎所有的放電能量都在連接陰極的樣品上轉(zhuǎn)化。特征光（例如，鐵類材料的藍(lán)色）包含有關(guān)元素及其在樣品中的含量的光譜信息。
     在火花架中產(chǎn)生的光被引導(dǎo)到衍射光柵上，并被該光柵分解成其光譜分量。波長(zhǎng)較長(zhǎng)的光比波長(zhǎng)較短的光偏轉(zhuǎn)（“衍射”）的強(qiáng)度更大。結(jié)果是可以使用光敏檢測(cè)器測(cè)量的樣品的發(fā)射光譜。 OE750使用具有高靈敏度和長(zhǎng)壽命的光學(xué)傳感器。光學(xué)系統(tǒng)在即使在約200 nm以下也能保證透明的介質(zhì)中工作。
     動(dòng)態(tài)CMOS檢測(cè)器的創(chuàng)新使用以及光學(xué)系統(tǒng)與火花架的直接連接確保了120 nm至780 nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)的光強(qiáng)度。該范圍涵蓋了從氫到鈾的所有元素，可以進(jìn)行完整的金屬分析。到目前為止，這種性能范圍僅在高端范圍內(nèi)提供。憑借創(chuàng)新的技術(shù)以及較低的氬氣和功耗，OE750是滿足高要求的經(jīng)濟(jì)高效的替代產(chǎn)品。
完整頻譜的記錄需要一個(gè)快速讀取系統(tǒng)，該系統(tǒng)可以快速處理大量數(shù)據(jù)。從發(fā)射光譜獲得的光強(qiáng)度使用儀器中存儲(chǔ)的校準(zhǔn)曲線轉(zhuǎn)換為內(nèi)含物。
     此信息顯示在屏幕上并進(jìn)行進(jìn)一步處理（質(zhì)量檢測(cè)（PMI），監(jiān)視過(guò)程控制的限制等）。
     OE750為此使用了一個(gè)特殊的處理器，它可以同時(shí)評(píng)估多達(dá)16個(gè)獨(dú)立的傳感器，從而可以使用DIA（動(dòng)態(tài)集成算法）進(jìn)行精確的分析。

>>>Sparcfire軟件>>>

  SpArcfire是一款現(xiàn)代操作軟件，具有適用于固定式Hitachi High-Tech高科技光發(fā)射光譜儀（OES）的最新用戶界面。該軟件旨在滿足冶金專家的要求，但其直觀性足以讓經(jīng)驗(yàn)不足的用戶進(jìn)行操作，這意味著您無(wú)需大量培訓(xùn)即可快速獲得結(jié)果。該體系結(jié)構(gòu)是基于插件的–現(xiàn)在就準(zhǔn)備好并適合將來(lái)。
     您無(wú)需成為冶金專家即可進(jìn)行分析。只需單擊一下即可創(chuàng)建首選視圖-水平或垂直。同樣，抑制元素，使其獨(dú)立于顯示器，打印機(jī)和存儲(chǔ)格式重新排序也很簡(jiǎn)單。從預(yù)先安裝的公式庫(kù)中添加，編輯和選擇公式非常容易。
     通過(guò)一些簡(jiǎn)單而全面的步驟，您可以：
    ?分析未知材料；
    ?使用日立GRADE數(shù)據(jù)庫(kù)搜索和驗(yàn)證成績(jī)；
    ?只需單擊幾下即可創(chuàng)建定制的報(bào)告模板；
    ?使用向?qū)?zhí)行非常規(guī)任務(wù)；
    ?使用對(duì)照樣品執(zhí)行和評(píng)估準(zhǔn)確性測(cè)試；
    ?對(duì)于高級(jí)用戶：修改回歸數(shù)據(jù)以擴(kuò)展校準(zhǔn)范圍。

>>>牌號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)>>>

     GRADE數(shù)據(jù)庫(kù)是大的金屬數(shù)據(jù)庫(kù)。它已預(yù)安裝在日立高科技光發(fā)射光譜儀（OES）上，具有超過(guò)1500萬(wàn)條記錄，適用于近350,000種金屬等級(jí)。
    通過(guò)一些簡(jiǎn)單而全面的步驟，您可以：
    ?分析未知材料；
    ?使用日立GRADE數(shù)據(jù)庫(kù)搜索和驗(yàn)證成績(jī)；
    ?只需單擊幾下即可創(chuàng)建定制的報(bào)告模板；
    ?使用向?qū)?zhí)行非常規(guī)任務(wù)；
    ?使用對(duì)照樣品執(zhí)行和評(píng)估準(zhǔn)確性測(cè)試；
    ?對(duì)于高級(jí)用戶：修改回歸數(shù)據(jù)以擴(kuò)展校準(zhǔn)范圍；

FP-LIMS：

     在當(dāng)今的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中，越來(lái)越多的測(cè)試和越來(lái)越多的文檔要求。還需要根據(jù)原始數(shù)據(jù)快速生成證書或使用決策。現(xiàn)代化的[FP] -LIMS實(shí)驗(yàn)室軟件解決方案具有突破性的靈活性，可以完成這些任務(wù)，并且多年來(lái)在全世界的集中式和分散式實(shí)驗(yàn)室中都取得了成功。在這里，主要支持中央測(cè)試處理，其中工作流程將以最佳方式自動(dòng)化或以減少的人工步驟進(jìn)行。
     FP-LIMS可以節(jié)省您的時(shí)間，節(jié)省成本，并通過(guò)避免錯(cuò)誤來(lái)確保高質(zhì)量，一致的質(zhì)量。這將是您的競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)。當(dāng)然，[FP] -LIMS可以適應(yīng)您的流程，并輕松快速地集成到您的公司中。無(wú)論是用作實(shí)驗(yàn)室軟件還是用作“數(shù)據(jù)收集器”。FP-Lims的基本版本已預(yù)先安裝在您的設(shè)備上。